美高測的歷史和著名的電力工程師斯坦利.珀希爾(Stanley G. Peschel)先生的生平密不可分。 他20多歲的時候就在他父親的高壓設(shè)備公司(Peschel Instruments)工作。在短短的幾年當中就將業(yè)務(wù)擴大,并于1962年創(chuàng)建Hipotronics公司,在高壓測...[查看更多]

TD-65E 介質(zhì)損耗角正切電橋(Tan Delta Bridge)專為與 VLF-34E 或 VLF-65E 設(shè)備無線通信(基于 XBee 協(xié)議)而設(shè)計,構(gòu)成完整的電纜診斷系統(tǒng)。該系統(tǒng)提供無線通信、數(shù)據(jù)采集及報告生成(通過配套的 E-Link PC 軟件)等高端功能,可依據(jù) IEEE 400、IEEE 400.2、IEEE 433、DIN VDE 0276、CENELEC HD620 S1、NEETRAC CDFI 等國際標準,對 5-35kV 主電纜進行介質(zhì)損耗角正切(Tan δ,又稱損耗因數(shù)或損耗角)測試。
測試原理:
介質(zhì)損耗角正切測試是一種非破壞性診斷方法,用于評估中高壓屏蔽電纜絕緣的老化程度。測試結(jié)果可反映絕緣層的污染、損傷或水樹老化情況。測試通過離線方式在斷電電纜上進行,使用甚低頻(0.1Hz)耐壓設(shè)備提供測試電壓,同時電橋記錄測試數(shù)據(jù)。通過逐步升壓并監(jiān)控讀數(shù),可避免因絕緣嚴重劣化導(dǎo)致的電纜擊穿風險。
| 型號 | TD-65E |
|---|---|
| 輸入電源 | 需兩節(jié)堿性 “D” 型電池 – 支持四節(jié)可充電 “D” 型電池(不含) |
| 測量范圍 |
- 電壓:1-65kVp(46kV 有效值),±1% 精度,0.1kV 分辨率 - 電流:0-150mAp(106mA 有效值),±1% 精度,1μA 分辨率 - 介質(zhì)損耗角正切:0.1Hz-0.01Hz,5nF-10μF,1.0×10??精度,1.0×10??分辨率 |
| PC 接口 | XBee 802.15.4(無線,約 30 英尺 / 9 米范圍) |
| PC 軟件 | E-Link 遠程控制與報告生成軟件 |
| 互連電纜 |
- 88-5061:20 英尺 / 6.1 米輸出電纜(適配 VLF-34E) - 81-5220:20 英尺 / 6.1 米輸出電纜(適配 VLF-65E S/N 1000-1285) - 88-514:20 英尺 / 6.1 米輸出電纜(適配 VLF-65E S/N 1286 及以上) |
| 標配附件 |
- 10 英尺 / 3 米 TD 輸出引線(帶紅色香蕉插頭) - 20 英尺 / 6.1 米黃綠測試引線 - 2 英寸 / 51mm×5 英寸 / 127mm 環(huán)形互感器 - 1.5 英寸 / 38mm 鋁球(帶香蕉插座) |
| 尺寸 |
- TD 傳感器(帶三腳架):7 英寸 / 152mm×8 英寸 / 203mm×18 英寸 / 457mm - 攜帶箱:22.5 英寸 / 572mm×15 英寸 / 381mm×11.75 英寸 / 298mm |
| 重量 |
- TD 傳感器(帶三腳架):7 磅 / 3.2kg - 攜帶箱及配件包:40 磅 / 18.14kg |
電纜絕緣狀態(tài)評估標準(基于 IEEE 400.2-2013)
| 條件評估 | 無鹵聚乙烯基絕緣(PE、XLPE、WTRXLPE) | 未識別填充絕緣(EPR) | 礦物填充絕緣(EPR) |
|---|---|---|---|
| 評估指標 | 標準偏差(穩(wěn)定性) | 介損增量(Tip Up) | 平均介損值(@U?) |
| 無行動要求 | 標準偏差 < 0.05 | 介損增量 < 5 | 平均介損 < 4 |
| 建議進一步分析 | 標準偏差 0.05-0.5 | 介損增量 5-80 | 平均介損 4-50 |
| 需立即行動 | 標準偏差 > 0.5 | 介損增量 > 80 | 平均介損 > 50 |
專業(yè)從事儀器儀表檢修9年,部分可提供服務(wù)的產(chǎn)品型號如下: