TWA500使用全新DVtest測(cè)試模式對(duì)OLTC離線非侵入測(cè)試，通過向繞組和分接開關(guān)注入直流電流，使其移動(dòng)到其所在位置時(shí)，測(cè)試出分接開關(guān)切換檔位時(shí)所需的時(shí)間，設(shè)備會(huì)實(shí)時(shí)記錄輸入的直流電流值及電機(jī)電流值，并以時(shí)間為橫坐標(biāo)，電流為縱坐標(biāo)繪制出一條紋波曲線，根據(jù)紋波曲線來判斷分接開關(guān)是否存在問題。

DVtest是一種指紋方法來判斷分接開關(guān)性能，電流-時(shí)間構(gòu)成的紋波曲線隨開關(guān)的切換呈現(xiàn)出整體的狀況，根據(jù)出廠前后相同的測(cè)試電流，測(cè)試順序下，紋波曲線應(yīng)一致。

從圖形形狀上看，曲線 呈加/減調(diào)節(jié)分布，幅度較為明顯，圖形形狀線性度好，紋波無波折；偶數(shù)/奇數(shù)分接位置正常無錯(cuò)位，無針絮狀異常；靜態(tài)線性度分布均勻，波紋間同步性好；平均過渡時(shí)間穩(wěn)定，無特殊時(shí)間波動(dòng)。